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熱流儀/超快速冷熱沖擊試驗機應用于5G通 信、半導體芯片、傳感器等領域。在短的時間內檢測樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學變化和物理傷害，減少測試與驗證時間，快速提高產品研發(fā)和生產效率。

整合了 CPU/內存Stress，ECC check, MCE check, SPD DATA Dump的一站式測試方案。
多種配置組合，適應用戶不同使用場景，如研發(fā)中心SIT測試，研發(fā)團隊硬件匹配性測試，工廠測試，RMA維修，進料檢。
DDR內存測試是非常重要的，可以確保計算機系統的穩(wěn)定性和性能。在進行DDR內存測試時，需要使用專業的測試工具和軟件來檢測內存的速度、容量和穩(wěn)定性。通過定期進行DDR內存測試，可以及時發(fā)現并解決內存問題，確保系統運行的順暢和穩(wěn)定。DDR內存測試還可以幫助用戶評估內存的性能，選擇適合自己需求的內存產品。

近幾年EMMC應用領域從手機應用延伸到IOT、工業、醫療甚至是車用電子。這個微小的芯片中，儲存了許多重要的數據，在面對各種不同的應用場景時，芯片的可靠度、衰老以及對于工作環(huán)境溫度的穩(wěn)定性也變得極為重要。
如何確保產品所使用的EMMC與UFS能夠在這些艱難的環(huán)境下提供穩(wěn)定的功能與效能表現也成為工程師極為關注的項目。

Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化柜可以通過物理測試和邏輯測試方法，讀取到 NAND Flash 閃存芯片的真實性能參數，實時地測試閃存顆粒的各類特性，并一鍵導出測試報告，同時Flash-Nand 4顆寬溫BIT老化柜可依據不同測試場景需求，提供基礎測試（實現閃存質量分級）、實驗測試（對閃存顆粒實際壽命進行預測，可輸出對比報告）、高階測試（自由選擇測試 pattern，設置測試條件，實現對顆粒性能的測試分析）。

應用于SATA產品量產階段數量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監(jiān)測產品的電流與功耗。在高溫RDT老化測試過程中，可以準確監(jiān)測產品的性能表現，確保其在量產階段能夠穩(wěn)定可靠地運行。同時，實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點，提前進行必要的維護和調整，從而提高產品的整體質量和可靠性。擴展實時監(jiān)測電流與功耗也能有效評估產品的能效表現，為后續的優(yōu)化提供數據支持。

應用于SATA產品量產階段數量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監(jiān)測產品的電流與功耗。
在高溫RDT老化測試過程中，可以準確監(jiān)測產品的性能表現，確保其在量產階段能夠穩(wěn)定可靠地運行。同時，實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點，提前進行必要的維護和調整，從而提高產品的整體質量和可靠性。擴展實時監(jiān)測電流與功耗也能有效評估產品的能效表現，為后續的優(yōu)化提供數據支持。

測試產品通道數量：1 顆
產品兼容：三星，東芝，海力士，長江存儲，鎂光。

測試產品通道數：4 Port。
接口：AIC （GEN3,GEN4)。

涂層、材料或線頭上各種微觀裂紋擴大檢測｜粘接不好的接頭松馳檢測｜使螺釘連接或鉚接不當的接頭松馳檢測｜使機械張力不足的壓配接頭松馳檢測｜合質量差的焊點接觸電阻加大或造成開路檢測｜密封失效檢測。

SSD的智能化測試系統采用Win7操作系統平臺，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA產品的測試項目，通過LUNIX系統和路油器進行數據傳輸，實現一鍵式操作，網絡化控制，節(jié)省人工，實現智能化數據管理，長久保留測試結果。

Flash 芯片異常斷電測試｜Flash 芯片讀寫測試｜Flash 芯片 ATA1-8指令測試｜Flash 芯片算法映射表驗證｜Flash 芯片測試箱｜Flash 芯片高低溫箱訂制｜Flash 芯片測試裝置｜Flash 芯片測試治具｜UFS，PCIE，EMMC測試系統｜Flash老化與篩選測試。

電磁式振動試驗機在實驗室條件下模擬振動環(huán)境，測試各種振動試驗應用領域中的沖擊強度和可靠性。